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日本日置HIOKI LCR測試儀IM3523的面板保存功能更,樶多保存60組測量條件,還能保存128個(gè)開路/短路補(bǔ)償和線長補(bǔ)償?shù)鹊难a(bǔ)償值。使用面板功能讀取所保存的測量條件。除了手動讀取以外,可以使用外部控制端口控制面板編號的讀取,因此能縮短構(gòu)筑自動化檢查產(chǎn)線的時(shí)間。
更新時(shí)間:2023-11-18
日本日置HIOKI LCR測試儀IM3523產(chǎn)品詳細(xì)信息
日本日置HIOKI LCR測試儀IM3523的面板保存功能更,樶多保存60組測量條件,還能保存128個(gè)開路/短路補(bǔ)償和線長補(bǔ)償?shù)鹊难a(bǔ)償值。使用面板功能讀取所保存的測量條件。除了手動讀取以外,可以使用外部控制端口控制面板編號的讀取,因此能縮短構(gòu)筑自動化檢查產(chǎn)線的時(shí)間。
★ 基本精度±0.05%,測量范圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
★ 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測試。
★ 內(nèi)置比較器和BIN功能
★ 2ms的快速測試時(shí)間
測量模式 | LCR,連續(xù)測試 |
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測量參數(shù) | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
測量量程 | 100mΩ~100MΩ,10個(gè)量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義) |
可顯示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [單位]* ~9.99999G [單位])(*為樶高分辯率時(shí)的顯示位數(shù)) 只有 Z和Y顯示真有效值 θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999) Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%) |
基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
測量頻率 | 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz) |
測量信號電平 | 正常模式 V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA~50mArms,10μArms |
輸出阻抗 | 正常模式:100Ω |
顯示 | 單色LCD |
測量時(shí)間 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
功能 | 比較器,分類測量(BIN功能),面板讀取/保存、存儲功能 |
接口 | EXT I/O(處理器),USB通信(高速) 選件:RS-232C,GP-IB,LAN任選一 |
電源 | 100~240V AC,50/60Hz,樶大50VA |
尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
附件 | 電源線×1,使用說明書×1,CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1 |
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