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日本日立紫外可見近紅外分光光度計UH4150介紹
點擊次數(shù):1639 更新時間:2022-08-01

日本日立紫外可見近紅外分光光度計UH4150概述

固體分析分光光度計專家U-4100,實現(xiàn)了進一步的技術(shù)提高, UH4150問世!

現(xiàn)在,UH4150型分光光度計已經(jīng)面世,秉承了U-4100的高度可靠性。U-4100已累計發(fā)售1,500*1多臺。

日本日立紫外可見近紅外分光光度計UH4150特點

切換檢測器波長時會產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現(xiàn)高精度的測定


檢測器切換時附近波長測定數(shù)據(jù)例
(金納米棒的吸收光譜)

安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內(nèi)進行測定。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號處理技術(shù)等,將檢測器切換時(信號水平的差異)吸光度值的變化降到最小。

日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實現(xiàn)低雜散光和低偏振

UH4150采用棱鏡-光柵(P-G)雙單色器的光學(xué)系統(tǒng),秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點。棱鏡-光柵(P-G)系統(tǒng)與常見的光柵-光柵(G-G)系統(tǒng)相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品,UH4150也可實現(xiàn)低噪音測定。

平行光束可實現(xiàn)反射光和散射光的精確測定


鏡面反射率測定示例

入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束,由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會不同,因此,像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計值將與實際測定值不同。 但對于平行光束,相對于樣品入射角始終相同,實現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外,平行光束可用于擴散率(霧度)的評價和透鏡透過率的測定。

可提供適合不同測定目的的多種檢測器


檢測器產(chǎn)品線

可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。*2*3

采用全新人體工學(xué)設(shè)計

改進樣品室門,提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作,采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計。

兼容多種U-4100附件

通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,適合更多的測定類型。

比U-4100型更高的樣品通量

在秉承U-4100型光學(xué)系統(tǒng)高性能的同時,UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測定時,掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定,顯著縮短測定時間。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內(nèi)測定的樣品,如太陽能反射材料,尤其有效。


掃描速度為600 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜


掃描速度為1,200 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜